IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)儀器介紹：

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)療保險(xiǎn)卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞。

IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)：

該IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1《識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第1部分：物理特性》，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006《識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分：一般特性測(cè)試》及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測(cè)試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長(zhǎng)邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

長(zhǎng)邊彎曲工位數(shù)：5工位

短邊彎曲工位數(shù)：5工位

雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位

儀器加罩前的尺寸是：

長(zhǎng)：74.5cm，寬：38cm  高：30cm 

自主設(shè)計(jì)按標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行雙向扭轉(zhuǎn)測(cè)試。